Hochschulschrift
Temperaturabhängigkeit des elektrischen Widerstands von Kupfer bei tiefen Temperaturen: Size-Effekt-induzierte Abweichungen von der Matthiessenschen Regel
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
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21 cm
- Extent
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131 S. in getr. Zählung
- Language
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Deutsch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
Münster (Westfalen), Univ., Diss., 1985 (Nicht f.d. Austausch)
- Creator
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Kuckhermann, Volker
- Table of contents
- Rights
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Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
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11.06.2025, 2:04 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Kuckhermann, Volker