Hochschulschrift

Temperaturabhängigkeit des elektrischen Widerstands von Kupfer bei tiefen Temperaturen: Size-Effekt-induzierte Abweichungen von der Matthiessenschen Regel

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
21 cm
Extent
131 S. in getr. Zählung
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Münster (Westfalen), Univ., Diss., 1985 (Nicht f.d. Austausch)

Creator
Kuckhermann, Volker

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Rights
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Last update
11.06.2025, 2:04 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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  • Kuckhermann, Volker

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