Hochschulschrift

Beiträge zur Anwendung der Ellipsometrie für die Untersuchung von dünnen oxidischen Deckschichten auf Eisen und Stahl in Modellatmosphären

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
144, [8] Bl.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill.
Dresden, Techn. Univ., Diss. A, 1985 (Nicht f.d. Austausch)

Schlagwort
Dünne Schicht
Korrosion
Ellipsometrie
Dünne Schicht
Korrosion
Ellipsometrie

Urheber
Eichhorn, Klaus-Jochen

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:10 MESZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Eichhorn, Klaus-Jochen

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