Präparationstechniken für die Fehleranalyse an integrierten Halbleiterschaltungen
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783527268795
3527268790
- Maße
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21 cm
- Umfang
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XII, 134 S.
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Literaturangaben
- Schlagwort
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Integrierte Schaltung
Ätzen
Fehleranalyse
Integrierte Schaltung
Ätzen
Testen
Fehleranalyse
Integrierte Schaltungen
Fehleranalyse
Integrierte Schaltung
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Weinheim, Basel (Schweiz), Cambridge, New York, NY
- (wer)
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VCH
- (wann)
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1988
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:52 MESZ
Datenpartner
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Beteiligte
- Beck, Friedrich
- VCH
Entstanden
- 1988