On the chemical composition of TiAlN thin films : Comparison of ion beam analysis and laser-assisted atom probe tomography with varying laser pulse energy

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: 10.1016/j.tsf.2019.04.026

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Aachen
(wer)
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
(wann)
2019
Urheber

DOI
10.18154/RWTH-2019-08307
URN
urn:nbn:de:101:1-2020110916152291739050
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:20 MESZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2019

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