Hochschulschrift
Röntgendiffraktometrische Untersuchungen zur thermischen Stabilität von Si1-xGex/Si- und Si1-yCy/Si-Heterostrukturen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
101 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Potsdam, Univ., Diss., 1996
- Schlagwort
-
Silicium
Germanium
Heterostruktur
Temperaturbeständigkeit
Röntgendiffraktometrie
Silicium
Kohlenstoff
Heterostruktur
Temperaturbeständigkeit
Röntgendiffraktometrie
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:14 MESZ
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Objekttyp
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