Hochschulschrift
Röntgendiffraktometrische Untersuchungen zur thermischen Stabilität von Si1-xGex/Si- und Si1-yCy/Si-Heterostrukturen
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
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30 cm
- Extent
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101 S.
- Language
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Deutsch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
Potsdam, Univ., Diss., 1996
- Keyword
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Silicium
Germanium
Heterostruktur
Temperaturbeständigkeit
Röntgendiffraktometrie
Silicium
Kohlenstoff
Heterostruktur
Temperaturbeständigkeit
Röntgendiffraktometrie
- Creator
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
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11.06.2025, 2:14 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift