Hochschulschrift

Maßnahmen zur Steigerung der Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen auf Gatterebene hinsichtlich Gateoxiddefekten

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Rostock, Universität Rostock. Fakultät für Informatik und Elektrotechnik, Dissertation, 2014

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
CMOS-Schaltung
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Integrierte Schaltung
MOS-FET
CMOS
VHDL

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Rostock
(wer)
Universität Rostock
(wann)
2015
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Timmermann, Dirk
Ortmanns, Maurits
Haubelt, Christian

DOI
10.18453/rosdok_id00001479
URN
urn:nbn:de:gbv:28-diss2015-0029-6
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:44 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2015

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