Hochschulschrift
Maßnahmen zur Steigerung der Zuverlässigkeit integrierter Schaltungen auf Gatterebene hinsichtlich Gateoxiddefekten
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Rostock, Universität Rostock. Fakultät für Informatik und Elektrotechnik, Dissertation, 2014
- Klassifikation
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Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
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CMOS-Schaltung
Entwurfsautomation
Zuverlässigkeit
Integrierte Schaltung
MOS-FET
CMOS
VHDL
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Rostock
- (wer)
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Universität Rostock
- (wann)
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2015
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
- DOI
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10.18453/rosdok_id00001479
- URN
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urn:nbn:de:gbv:28-diss2015-0029-6
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:44 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Sämrow, Hagen
- Timmermann, Dirk
- Ortmanns, Maurits
- Haubelt, Christian
- Universität Rostock
Entstanden
- 2015