Untersuchung der lokalen und globalen Herstellgenauigkeit integrierter Halbleiterbauelemente
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783183255092
318325509X
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
VIII, 127 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Literaturverz. S. 121 - 127
- Erschienen in
-
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 255, Reihe 9
- Schlagwort
-
MOS-FET
CMOS-Schaltung
Statistische Qualitätskontrolle
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Düsseldorf
- (wer)
-
VDI-Verl.
- (wann)
-
1997
- Urheber
-
Braß, Eckhard
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:26 MESZ
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Beteiligte
- Braß, Eckhard
- VDI-Verl.
Entstanden
- 1997
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