Konferenzschrift | Kongress

CD metrology : 20th nov. 2003

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783865091116
3865091113
Maße
30 cm, 504 gr.
Umfang
184 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.

Erschienen in
Vorträge des ... PTB-Seminars / Physikalisch-Technische Bundesanstalt ; 188

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Schlagwort
Nanostruktur
Messtechnik
Mikrostruktur
Messtechnik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Bremerhaven
(wer)
Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss.
(wann)
2003
Beteiligte Personen und Organisationen
Bosse, Harald
Bodermann, Bernd
Mirandé, Werner

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:04 MESZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Konferenzschrift
  • Kongress

Beteiligte

  • Bosse, Harald
  • Bodermann, Bernd
  • Mirandé, Werner
  • Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss.

Entstanden

  • 2003

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