Konferenzschrift | Kongress

CD metrology : 20th nov. 2003

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Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783865091116
3865091113
Dimensions
30 cm, 504 gr.
Extent
184 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.

Bibliographic citation
Vorträge des ... PTB-Seminars / Physikalisch-Technische Bundesanstalt ; 188

Classification
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Keyword
Nanostruktur
Messtechnik
Mikrostruktur
Messtechnik

Event
Veröffentlichung
(where)
Bremerhaven
(who)
Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss.
(when)
2003
Contributor
Bosse, Harald
Bodermann, Bernd
Mirandé, Werner

Table of contents
Rights
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Last update
11.06.2025, 2:04 PM CEST

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Object type

  • Konferenzschrift
  • Kongress

Associated

  • Bosse, Harald
  • Bodermann, Bernd
  • Mirandé, Werner
  • Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss.

Time of origin

  • 2003

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