Fourier scatterometry for compensation of tilt and curvature deviations of two-photon polymerization three-dimensional printers

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Journal of Optical Microsystems, 3, 4, 043501, 12 S.

Event
Veröffentlichung
(where)
Sankt Augustin
(who)
Hochschule Bonn-Rhein-Sieg
(when)
2023
Creator
Ellingen, Elias
Rohde, Markus
Stahl, Bastian
Lange, Robert

DOI
10.1117/1.JOM.3.4.043501
URN
urn:nbn:de:hbz:1044-opus-76295
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:49 PM CET

Data provider

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Time of origin

  • 2023

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