Quantitative multichannel NC-AFM data analysis of graphene growth on SiC(0001)

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Beilstein Journal of Nanotechnology 3, S. 179-185

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Saarbrücken
(wer)
Leibniz-Institut für Neue Materialien
(wann)
2012
Urheber
Held, Christian
Seyller, Thomas
Bennewitz, Roland

DOI
10.3762/bjnano.3.19
URN
urn:nbn:de:bsz:291:415-1461
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:56 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Held, Christian
  • Seyller, Thomas
  • Bennewitz, Roland
  • Leibniz-Institut für Neue Materialien

Entstanden

  • 2012

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