Hochschulschrift

Zuverlässigkeit von großflächigen Verbindungen in der Leistungselektronik : ein Beitrag zum "Design for reliability"

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783183363094
3183363097
Maße
21 cm
Umfang
VIII, 199 S.
Ausgabe
Als Ms. gedruckt
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Bremen, Univ., Diss.

Erschienen in
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 363, Reihe 9

Schlagwort
Leistungselektronik
Elektronisches Bauelement
Zuverlässigkeit
Lötverbindung
Thermische Ermüdung
Lebensdauer

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Düsseldorf
(wer)
VDI-Verl.
(wann)
2002
Urheber
Thoben, Markus

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
17.04.2025, 15:04 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Thoben, Markus
  • VDI-Verl.

Entstanden

  • 2002

Ähnliche Objekte (12)