Hochschulschrift
Zuverlässigkeit von großflächigen Verbindungen in der Leistungselektronik : ein Beitrag zum "Design for reliability"
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783183363094
3183363097
- Maße
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21 cm
- Umfang
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VIII, 199 S.
- Ausgabe
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Als Ms. gedruckt
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Zugl.: Bremen, Univ., Diss.
- Erschienen in
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Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 363, Reihe 9
- Schlagwort
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Leistungselektronik
Elektronisches Bauelement
Zuverlässigkeit
Lötverbindung
Thermische Ermüdung
Lebensdauer
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
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Düsseldorf
- (wer)
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VDI-Verl.
- (wann)
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2002
- Urheber
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Thoben, Markus
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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17.04.2025, 15:04 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Thoben, Markus
- VDI-Verl.
Entstanden
- 2002