Hochschulschrift

A landmark-based method for the geometrical 3D calibration of scanning microscopes

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
Berlin, Technische Universität Berlin, Dissertation, 2006

Bibliographic citation
BAM-Dissertationsreihe ; 21

Classification
Naturwissenschaften

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(when)
2007
Creator
Contributor
Hellwich, Olaf
Albertz, Jörg
Hohenberg, Heinz
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

URN
urn:nbn:de:kobv:b43-1373
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:50 PM CET

Data provider

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Object type

  • Hochschulschrift

Associated

  • Ritter, Martin
  • Hellwich, Olaf
  • Albertz, Jörg
  • Hohenberg, Heinz
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Time of origin

  • 2007

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