Hochschulschrift
Systematische Lebensdauer-Optimierung für hochintegrierte Systeme auf der Basis von Nano-Strukturen durch Stress-Optimierung und Selbstreparatur
- Weitere Titel
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Systematic lifetime optimization of highly integrated systems based on nano structures by means of stress optimization and self repair
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Cottbus, BTU Cottbus - Senftenberg, Dissertation, 2014
- Klassifikation
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Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
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Zuverlässigkeit
Transistor
VHDL
Schaltvorgang
Versorgungsspannung
Taktfrequenz
Integrierte Schaltung
Stress
MOS
Field programmable gate array
Lebensdauer
Nanostruktur
Elektronisches Bauelement
Lebensdauer
Zuverlässigkeit
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Cottbus
- (wer)
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BTU Cottbus - Senftenberg
- (wann)
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2014
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
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Vierhaus, Heinrich Theodor
- URN
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urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-31220
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:45 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Ulbricht, Markus
- Vierhaus, Heinrich Theodor
- BTU Cottbus - Senftenberg
Entstanden
- 2014