Hochschulschrift

Systematische Lebensdauer-Optimierung für hochintegrierte Systeme auf der Basis von Nano-Strukturen durch Stress-Optimierung und Selbstreparatur

Weitere Titel
Systematic lifetime optimization of highly integrated systems based on nano structures by means of stress optimization and self repair
Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Cottbus, BTU Cottbus - Senftenberg, Dissertation, 2014

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Zuverlässigkeit
Transistor
VHDL
Schaltvorgang
Versorgungsspannung
Taktfrequenz
Integrierte Schaltung
Stress
MOS
Field programmable gate array
Lebensdauer
Nanostruktur
Elektronisches Bauelement
Lebensdauer
Zuverlässigkeit

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Cottbus
(wer)
BTU Cottbus - Senftenberg
(wann)
2014
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Vierhaus, Heinrich Theodor

URN
urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-31220
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:45 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2014

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