- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783183278091
318327809X
- Maße
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21 cm
- Umfang
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XI, 202 S.
- Ausgabe
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1998
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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graph. Darst.
Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998
- Erschienen in
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Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 278, Reihe 9
- Schlagwort
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Halbleitertechnologie
Fehlerortung
Elektrische Messung
Integrierte Schaltung
CAT
Entwurfsautomation
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 11:41 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Hess, Christopher
- VDI-Verl.
Entstanden
- 1998