Hochschulschrift

Verfahren zur elektrischen Defektanalyse

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783183278091
318327809X
Maße
21 cm
Umfang
XI, 202 S.
Ausgabe
1998
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Zugl.: Karlsruhe, Univ., Diss., 1998

Erschienen in
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 278, Reihe 9

Schlagwort
Halbleitertechnologie
Fehlerortung
Elektrische Messung
Integrierte Schaltung
CAT
Entwurfsautomation

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Düsseldorf
(wer)
VDI-Verl.
(wann)
1998
Urheber

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 11:41 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 1998

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