Hochschulschrift
Charakterisierung und Modellierung von Ladungseinfangmechanismen in dielektrischen Speicherschichten
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
II, 121 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2009 (Nicht für den Austausch)
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Elektronenverteilung ; Flash-Speicher ; Halbleiter ; Halbleitermesstechnik ; Halbleiterschicht ; Halbleiterspeicher ; Heies Elektron ; Nichtflüchtige
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:13 MEZ
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Objekttyp
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Beteiligte
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