Hochschulschrift

Röntgenreflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen, [...]. Technischer Anhang DiffTool-Hilfe und Referenzhandbuch

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
188, [10] S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.

Erschienen in
Röntgenreflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
teadur
(wann)
1997
Urheber

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.0004, 12:35 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 1997

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