Hochschulschrift
Röntgenreflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen, [...]. Technischer Anhang DiffTool-Hilfe und Referenzhandbuch
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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188, [10] S.
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
- Erschienen in
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Röntgenreflektometrie zur Analyse von Dünnschichtsystemen
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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11.06.0004, 12:35 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
Entstanden
- 1997