Sensitivity of sample for simulation-based reliability analysis methods

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Yuan, X.; Gu, J.; Liu, S.: Sensitivity of sample for simulation-based reliability analysis methods. In: CMES - Computer Modeling in Engineering and Sciences 126 (2021), Nr. 1, S. 331-357. DOI: https://doi.org/10.32604/CMES.2021.010482

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(wann)
2021
Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(wann)
2021
Urheber
Yuan, Xiukai
Gu, Jian
Liu, Shaolong

DOI
10.15488/10642
URN
urn:nbn:de:101:1-2021040102202111525134
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:52 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Yuan, Xiukai
  • Gu, Jian
  • Liu, Shaolong
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Entstanden

  • 2021

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