- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Bibliographic citation
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In: Yuan, X.; Gu, J.; Liu, S.: Sensitivity of sample for simulation-based reliability analysis methods. In: CMES - Computer Modeling in Engineering and Sciences 126 (2021), Nr. 1, S. 331-357. DOI: https://doi.org/10.32604/CMES.2021.010482
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Hannover, Hannover
- (who)
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Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Technische Informationsbibliothek (TIB)
- (when)
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2021
- Creator
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Yuan, Xiukai
Gu, Jian
Liu, Shaolong
- DOI
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10.15488/10642
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2021040102202111525134
- Rights
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
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25.03.2025, 1:45 PM CET
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Yuan, Xiukai
- Gu, Jian
- Liu, Shaolong
- Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Technische Informationsbibliothek (TIB)
Time of origin
- 2021