Sensitivity of sample for simulation-based reliability analysis methods

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Yuan, X.; Gu, J.; Liu, S.: Sensitivity of sample for simulation-based reliability analysis methods. In: CMES - Computer Modeling in Engineering and Sciences 126 (2021), Nr. 1, S. 331-357. DOI: https://doi.org/10.32604/CMES.2021.010482

Event
Veröffentlichung
(where)
Hannover, Hannover
(who)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Technische Informationsbibliothek (TIB)
(when)
2021
Creator
Yuan, Xiukai
Gu, Jian
Liu, Shaolong

DOI
10.15488/10642
URN
urn:nbn:de:101:1-2021040102202111525134
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:45 PM CET

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  • Yuan, Xiukai
  • Gu, Jian
  • Liu, Shaolong
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Technische Informationsbibliothek (TIB)

Time of origin

  • 2021

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