Sensitivity of sample for simulation-based reliability analysis methods

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Yuan, X.; Gu, J.; Liu, S.: Sensitivity of sample for simulation-based reliability analysis methods. In: CMES - Computer Modeling in Engineering and Sciences 126 (2021), Nr. 1, S. 331-357. DOI: https://doi.org/10.32604/CMES.2021.010482

Event
Veröffentlichung
(where)
Hannover
(who)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(when)
2021
Event
Veröffentlichung
(where)
Hannover
(who)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(when)
2021
Creator
Yuan, Xiukai
Gu, Jian
Liu, Shaolong

DOI
10.15488/10642
URN
urn:nbn:de:101:1-2021040102202111525134
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:52 AM CEST

Data provider

This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.

Associated

  • Yuan, Xiukai
  • Gu, Jian
  • Liu, Shaolong
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Time of origin

  • 2021

Other Objects (12)