Nanoscale electrical characterization of graphene-based materials by atomic force microscopy
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
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2044-5326
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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online resource.
- Erschienen in
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Nanoscale electrical characterization of graphene-based materials by atomic force microscopy ; volume:37 ; number:20 ; day:6 ; month:10 ; year:2022 ; pages:3319-3339 ; date:10.2022
Journal of materials research ; 37, Heft 20 (6.10.2022), 3319-3339, 10.2022
- Urheber
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Silva, K. Kanishka H. De
Huang, Hsin-Hui
Viswanath, Pamarti
Joshi, Rakesh
Yoshimura, Masamichi
- Beteiligte Personen und Organisationen
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SpringerLink (Online service)
- DOI
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10.1557/s43578-022-00758-0
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2023012422524257643356
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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15.08.2025, 07:28 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Silva, K. Kanishka H. De
- Huang, Hsin-Hui
- Viswanath, Pamarti
- Joshi, Rakesh
- Yoshimura, Masamichi
- SpringerLink (Online service)