Nanoscale electrical characterization of graphene-based materials by atomic force microscopy

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
2044-5326
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
online resource.

Erschienen in
Nanoscale electrical characterization of graphene-based materials by atomic force microscopy ; volume:37 ; number:20 ; day:6 ; month:10 ; year:2022 ; pages:3319-3339 ; date:10.2022
Journal of materials research ; 37, Heft 20 (6.10.2022), 3319-3339, 10.2022

Urheber
Silva, K. Kanishka H. De
Huang, Hsin-Hui
Viswanath, Pamarti
Joshi, Rakesh
Yoshimura, Masamichi
Beteiligte Personen und Organisationen
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1557/s43578-022-00758-0
URN
urn:nbn:de:101:1-2023012422524257643356
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:28 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Silva, K. Kanishka H. De
  • Huang, Hsin-Hui
  • Viswanath, Pamarti
  • Joshi, Rakesh
  • Yoshimura, Masamichi
  • SpringerLink (Online service)

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