Know your full potential: Quantitative Kelvin probe force microscopy on nanoscale electrical devices

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
Know your full potential: Quantitative Kelvin probe force microscopy on nanoscale electrical devices ; volume:9 ; pages:1809-1819
Beilstein journal of nanotechnology ; 9, 1809-1819

Classification
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

DOI
10.3762/bjnano.9.172
URN
urn:nbn:de:101:1-2018091808131398657449
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
15.08.2025, 7:33 AM CEST

Data provider

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