Reliability effects of lateral filament confinement by nano-scaling the oxide in memristive devices
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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In: 10.1039/D3NH00520H
- Klassifikation
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Chemie
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Aachen
- (wer)
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Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (wann)
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2024
- Urheber
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Stasner, Pascal
Kopperberg, Nils
Schnieders, Kristoffer
Hennen, Tyler
Wiefels, Stefan
Menzel, Stephan
Waser, Rainer
Wouters, Dirk J.
- DOI
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10.18154/RWTH-2024-04071
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2404180140039.357699401981
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:56 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Stasner, Pascal
- Kopperberg, Nils
- Schnieders, Kristoffer
- Hennen, Tyler
- Wiefels, Stefan
- Menzel, Stephan
- Waser, Rainer
- Wouters, Dirk J.
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Entstanden
- 2024