Hochschulschrift

Entwicklung eines neuartigen elektrischen Rasterkraftmikroskopie-Tests zur quantitativen Bestimmung von Gleich- und Wechselspannungen bis über 100 GHz in integrierten mikroelektronischen Schaltungen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783183324095
3183324091
Maße
21 cm
Umfang
XIV, 219 S.
Ausgabe
Als Ms. gedr.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 2000

Erschienen in
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 324, Reihe 9

Schlagwort
Integrierte Schaltung
Hochfrequenzschaltung
Testen
Rasterkraftmikroskopie
Leiterbahn
Oberflächenmessung
Integrierte Schaltung
Nanotechnologie
Testen
Rasterkraftmikroskopie
Leiterbahn
Oberflächenmessung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Düsseldorf
(wer)
VDI-Verl.
(wann)
2000
Urheber
Wittpahl, Volker

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:43 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Wittpahl, Volker
  • VDI-Verl.

Entstanden

  • 2000

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