New Methods for Improving Embedded Memory Manufacturing Tests

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Passau, Universität Passau, Dissertation, 2018

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Memory
Examinations

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Passau
(wer)
Universität Passau
(wann)
2019
Urheber
Kinseher, Josef
Beteiligte Personen und Organisationen
Polian, Ilia

URN
urn:nbn:de:bvb:739-opus4-6017
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:54 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Kinseher, Josef
  • Polian, Ilia
  • Universität Passau

Entstanden

  • 2019

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