Electrical Properties of Thin ZrSe3 Films for Device Applications

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Thole, L.; Belke, C.; Locmelis, S.; Behrens, P.; Haug, R.J.: Electrical Properties of Thin ZrSe3 Films for Device Applications. In: ACS omega 7 (2022), Nr. 44, S. 39913-39916. DOI: https://doi.org/10.1021/acsomega.2c04198

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(wann)
2022
Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(wann)
2022
Urheber
Thole, Lars
Belke, Christopher
Locmelis, Sonja
Behrens, Peter
Haug, Rolf J.

DOI
10.15488/13606
URN
urn:nbn:de:101:1-2023051102132879213439
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:59 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Thole, Lars
  • Belke, Christopher
  • Locmelis, Sonja
  • Behrens, Peter
  • Haug, Rolf J.
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Entstanden

  • 2022

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