Reliability Assessment and Defect Characterization of Piezoelectric Thin Films

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
Chemnitz, Technische Universität Chemnitz, Dissertation, 2024

Keyword
Zuverlässigkeit
Dünne Schicht
PZT
Piezoelektrizität
Degradation
Ferroelektrikum
Zuverlässigkeit
PZT
Kaliumnatriumniobat
Gitterleerstelle

Event
Veröffentlichung
(where)
Chemnitz
(who)
Technische Universität Chemnitz
(when)
2024
Creator
Contributor
Hiller, Karla
Dörr, Kathrin

URN
urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa2-939082
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
15.08.2025, 7:37 AM CEST

Data provider

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Associated

  • Ho, Kuan-Ting
  • Hiller, Karla
  • Dörr, Kathrin
  • Technische Universität Chemnitz

Time of origin

  • 2024

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