Hochschulschrift
Einfluß von Betauung und Feuchteadsorption auf die Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
3896756516
9783831680207
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
VIII, 122 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill.graph. Darst.
Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1999
- Keyword
-
Elektronische Baugruppe
Verunreinigung
Feuchtigkeitsschaden
Elektrochemische Korrosion
Zuverlässigkeit
Elektronische Baugruppe
Witterungsbeständigkeit
Prüftechnik
Prozessentwicklung
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
München
- (who)
-
Utz, Wiss.
- (when)
-
2000
- Creator
-
Schmitt, Stephan
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 2:18 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Schmitt, Stephan
- Utz, Wiss.
Time of origin
- 2000
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