Hochschulschrift
Quantitative Auger-Tiefenprofilanalyse von Silizidschichten anhand der Silizium-LVV-Linienform
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
99 Bl.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill.
Berlin, Akad. d. Wiss. d. DDR, Diss. A, 1984 (Nicht f.d. Austausch)
- Schlagwort
-
Silizide
Halbleiter
Siliziklastisches Gestein
Halbleiter
- Urheber
-
Atzrodt, Volker
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:35 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Atzrodt, Volker
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