Contactless transient carrier spectroscopy and imaging technique using lock-in free carrier emission and absorption

Abstract: In this paper we present a contactless transient carrier spectroscopy and imaging technique for traps in silicon. At each pixel, we fit the transient decay of the trap emission which allows us to obtain both the trap time constant and trap concentration. Here we show that this technique allows for high-resolution images. furthermore, this technique also allows to discriminate between the presence of thermal donors or oxygen precipitates in as-grown wafers, without requiring a thermal donor killing step

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Scientific Reports. - 9, 1 (2019) , 14268 (2019), ISSN: 2045-2322

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Freiburg
(wer)
Universität
(wann)
2020
Urheber
Rougieux, Fiacre E.
Kwapil, Wolfram
Heinz, Friedemann D.
Siriwardhana, Manjula
Schubert, Martin

DOI
10.1038/s41598-019-49804-8
URN
urn:nbn:de:bsz:25-freidok-1659960
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:46 MESZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2020

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