The modular small-angle X-ray scattering data correction sequence

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Journal of Applied Crystallography, 50,6, S. 1800-1811

Klassifikation
Technische Chemie

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(wann)
2017
Urheber
Pauw, Brian Richard
Smith, A. J.
Snow, T.
Terril, N. J.
Thünemann, Andreas F.

DOI
10.1107/S1600576717015096
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-432114
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:54 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Pauw, Brian Richard
  • Smith, A. J.
  • Snow, T.
  • Terril, N. J.
  • Thünemann, Andreas F.
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Entstanden

  • 2017

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