The modular small-angle X-ray scattering data correction sequence

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Journal of Applied Crystallography, 50,6, S. 1800-1811

Classification
Technische Chemie

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(when)
2017
Creator
Pauw, Brian Richard
Smith, A. J.
Snow, T.
Terril, N. J.
Thünemann, Andreas F.

DOI
10.1107/S1600576717015096
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-432114
Rights
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Last update
25.03.2025, 1:54 PM CET

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Associated

  • Pauw, Brian Richard
  • Smith, A. J.
  • Snow, T.
  • Terril, N. J.
  • Thünemann, Andreas F.
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Time of origin

  • 2017

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