Detailed investigation of surface passivation methods for lifetime measurements on silicon wafers

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: IEEE Journal of Photovoltaics ; 2 (2012), 1. - S. 1-6. - ISSN 2156-3381

Classification
Physik

Event
Veröffentlichung
(where)
Konstanz
(who)
Bibliothek der Universität Konstanz
(when)
2012
Creator
Pollock, Kevin L.
Junge, Johannes
Hahn, Giso

URN
urn:nbn:de:bsz:352-185005
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:54 PM CET

Data provider

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  • Pollock, Kevin L.
  • Junge, Johannes
  • Hahn, Giso
  • Bibliothek der Universität Konstanz

Time of origin

  • 2012

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