Hochschulschrift
Transport- und Rekombinations-Eigenschaften von Korngrenzen in Silizium: Ursache und Wirkung der Grenzflächen-Zustände
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
123 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Stuttgart, Univ., Diss., 1986
- Keyword
-
Halbleiter
Halbleiterbauelemente
Silizium
Gefüge (Werkstoffkunde)
Korngrenze (Werkstoffkunde)
Störstelle
Halbleiter
Halbleiterbauelement
Silicium
Gefüge
Störstelle
- Creator
-
Stützler, Frank-Jürgen
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
- 11.06.2025, 2:29 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Stützler, Frank-Jürgen
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