Hochschulschrift
Van-der-Waals-Grenzflächen auf Silizium (111) : atomare Struktur und elektronische Eigenschaften
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783832251222
3832251227
- Dimensions
-
21 cm, 326 gr.
- Extent
-
VII, 208 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Darmstadt, Techn. Univ., Diss., 2005
- Classification
-
Physik
- Keyword
-
Silicium
Halbleitergrenzfläche
Zwischenschicht
Epitaxieschicht
Van-der-Waals-Kraft
Galliumselenide
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 1:42 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Jäckel, Bengt
- Shaker
Time of origin
- 2006
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