Hochschulschrift

Simulation-based investigation of interface delamination in plastic IC packages under temperature and moisture loading

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Berlin, Techn. Univ., Diss., 2010

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Halbleitergehäuse
Epoxidharz
Thermoplastische Formmasse
Feuchtigkeit
Delamination

Urheber

URN
urn:nbn:de:kobv:83-opus-27687
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:50 MEZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

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