Hochschulschrift

Fortschritte bei der Gewinnung und Quantifizierung von Messdaten am analytischen TEM als Beitrag zur Phasencharakterisierung

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
80 Bl.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Berlin, Akad. d. Wiss. d. DDR, Diss. A, 1987 (Nicht f.d. Austausch)

Schlagwort
Werkstoffprüfung
Elektronenmikroskopie
Werkstoffprüfung
Elektronenmikroskopie

Urheber
Scholz, Wenzel

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:09 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Scholz, Wenzel

Ähnliche Objekte (12)