- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Saarbrücken, Univ., Diss., 1994
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
VLSI
Schaltnetz
Baum
Testbarkeit
Komplexität
VLSI ; Schaltnetz ; Baum ; Testbarkeit ; Komplexität
- Urheber
-
Wu, Hongzhong
- URN
-
urn:nbn:de:bsz:291-scidok-11971
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:53 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Wu, Hongzhong
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