Analytische und in situ Elektronenmikroskopie zur metallinduzierten Kristallisation von Silizium

Alternative title
Analytical und in situ Electron Microscopy of metal-induced Crystallization of Silicon
Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Deutsch
Notes
Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Dissertation, 2018

Classification
Technische Chemie
Keyword
Kristallisation
Silicium
Dünne Schicht
Elektronenmikroskopie
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
Elektronenmikroskopie
in situ
Silicium
Kristallisation

Event
Veröffentlichung
(where)
Erlangen
(who)
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
(when)
2018
Creator
Contributor
Spiecker, Erdmann
Spiecker, Erdmann

URN
urn:nbn:de:bvb:29-opus4-97577
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:44 PM CET

Data provider

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Time of origin

  • 2018

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