Analytische und in situ Elektronenmikroskopie zur metallinduzierten Kristallisation von Silizium
- Weitere Titel
-
Analytical und in situ Electron Microscopy of metal-induced Crystallization of Silicon
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Dissertation, 2018
- Klassifikation
-
Technische Chemie
- Schlagwort
-
Kristallisation
Silicium
Dünne Schicht
Elektronenmikroskopie
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
Elektronenmikroskopie
in situ
Silicium
Kristallisation
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Erlangen
- (wer)
-
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
- (wann)
-
2018
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
-
Spiecker, Erdmann
Spiecker, Erdmann
- URN
-
urn:nbn:de:bvb:29-opus4-97577
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
13.03.2025, 00:13 MEZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Kraschewski, Simon Martin
- Spiecker, Erdmann
- Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
Entstanden
- 2018
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