Analytische und in situ Elektronenmikroskopie zur metallinduzierten Kristallisation von Silizium
- Weitere Titel
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Analytical und in situ Electron Microscopy of metal-induced Crystallization of Silicon
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Dissertation, 2018
- Klassifikation
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Technische Chemie
- Schlagwort
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Kristallisation
Silicium
Dünne Schicht
Elektronenmikroskopie
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
Elektronenmikroskopie
in situ
Silicium
Kristallisation
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Erlangen
- (wer)
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Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
- (wann)
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2018
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
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Spiecker, Erdmann
Spiecker, Erdmann
- URN
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urn:nbn:de:bvb:29-opus4-97577
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:44 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Kraschewski, Simon Martin
- Spiecker, Erdmann
- Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
Entstanden
- 2018