Analytische und in situ Elektronenmikroskopie zur metallinduzierten Kristallisation von Silizium

Weitere Titel
Analytical und in situ Electron Microscopy of metal-induced Crystallization of Silicon
Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), Dissertation, 2018

Klassifikation
Technische Chemie
Schlagwort
Kristallisation
Silicium
Dünne Schicht
Elektronenmikroskopie
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
Elektronenmikroskopie
in situ
Silicium
Kristallisation

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Erlangen
(wer)
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
(wann)
2018
Urheber
Beteiligte Personen und Organisationen
Spiecker, Erdmann
Spiecker, Erdmann

URN
urn:nbn:de:bvb:29-opus4-97577
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:44 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

Entstanden

  • 2018

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