Hochschulschrift
Untersuchung von Degradationsmechanismen an (Al/In)GaN-basierenden Laserdioden
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783867273480
3867273480
- Extent
-
II, 159 S.
- Edition
-
1. Aufl.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Ulm, Univ., Diss., 2007
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
Laserdiode
Galliumarsenid-Bauelement
Lebensdauer
Degradation
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.03.2025, 12:09 PM CET
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Furitsch, Michael
- Cuvillier
Time of origin
- 2007
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