Hochschulschrift
Untersuchung von Degradationsmechanismen an (Al/In)GaN-basierenden Laserdioden
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783867273480
3867273480
- Umfang
-
II, 159 S.
- Ausgabe
-
1. Aufl.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Ulm, Univ., Diss., 2007
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Laserdiode
Galliumarsenid-Bauelement
Lebensdauer
Degradation
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:09 MEZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Furitsch, Michael
- Cuvillier
Entstanden
- 2007
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