Methoden der Testvorbereitung zum IC-Entwurf

Angaben zum Objekt

• Standort: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
• Umfang: Online-Ressource
• Sprache: Deutsch

Verweise und Beziehungen

• Erschienen in: In: Mikro-Elektronik 4 (1990), S. 112-115

Klassifikation und Themen

• Klassifikation: Elektrotechnik, Elektronik
• Schlagwort: Fehlermodell ; Prüfprogramm ; Integrierte Schaltung

Beteiligte, Orts- und Zeitangaben

• Ereignis: Veröffentlichung
• (wo): Stuttgart
• (wer): Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
• (wann): 2012
• Urheber: Schulz, Michael H. ; Wunderlich, Hans-Joachim

Weitere Informationen

• URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-73187
• Rechteinformation: Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
• Letzte Aktualisierung: 15.08.2025, 07:35 MESZ