Methoden der Testvorbereitung zum IC-Entwurf

Object Details

• Location: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
• Extent: Online-Ressource
• Language: Deutsch

References and Relationships

• Bibliographic citation: In: Mikro-Elektronik 4 (1990), S. 112-115

Classification and Topics

• Classification: Elektrotechnik, Elektronik
• Keyword: Fehlermodell ; Prüfprogramm ; Integrierte Schaltung

Contributors, Places and Time

• Event: Veröffentlichung
• (where): Stuttgart
• (who): Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
• (when): 2012
• Creator: Schulz, Michael H. ; Wunderlich, Hans-Joachim

Further information

• URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-73187
• Rights: Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
• Last update: 15.08.2025, 7:35 AM CEST