X-ray structural characterization of individual as-grown GaAs/(In,Ga)As/(GaAs) based core-multi-shell nanowires
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource
- Language
-
Englisch
- Notes
-
Siegen, Universität Siegen, Dissertation, 2019
- Keyword
-
Nanowires
Röntgendiffraktometrie
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Siegen
- (who)
-
Universitätsbibliothek der Universität Siegen
- (when)
-
2019
- Creator
- Contributor
- URN
-
urn:nbn:de:hbz:467-15562
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
14.08.2025, 11:01 AM CEST
Data provider
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Associated
- Al Hassan, Ali
- Pietsch, Ullrich
- Universitätsbibliothek der Universität Siegen
Time of origin
- 2019
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