Hochschulschrift
Röntgenographische Charakterisierung von ultradünnen III-V-Halbleiterschichtstrukturen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
143 Bl.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
graph. Darst.
Leipzig, Univ., Diss., 1996
- Keyword
-
Galliumarsenid
Aluminiumarsenid
Heterostruktur
Röntgenbeugung
Galliumarsenid
Indiumarsenid
Übergitter
Röntgenbeugung
- Creator
-
Kriegel, Steffen
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.03.2025, 12:24 PM CET
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Kriegel, Steffen
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