Impact of Hierarchical Dopant‐Induced Microstructure on Thermoelectric Properties of p‐Type Si‐Ge Alloys Revealed by Comprehensive Multi‐Scale Characterization

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
Impact of Hierarchical Dopant‐Induced Microstructure on Thermoelectric Properties of p‐Type Si‐Ge Alloys Revealed by Comprehensive Multi‐Scale Characterization ; day:25 ; month:04 ; year:2024 ; extent:15
Advanced functional materials ; (25.04.2024) (gesamt 15)

Urheber
Jang, Kyuseon
Ko, Won‐Seok
Son, Ji‐Hee
Jang, Jeong‐In
Kim, Bongseo
Vega‐Parades, Miquel
Jang, Hanhwi
Allahyari, Maryam
Kim, Se‐Ho
Ryou, KenHee
Chae, Donghyeon
Park, Hail
Jung, Yeon Sik
Oh, Min‐Wook
Jung, Chanwon
Scheu, Christina
Choi, Pyuck‐Pa

DOI
10.1002/adfm.202403785
URN
urn:nbn:de:101:1-2404261403336.756607288346
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 11:04 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Beteiligte

  • Jang, Kyuseon
  • Ko, Won‐Seok
  • Son, Ji‐Hee
  • Jang, Jeong‐In
  • Kim, Bongseo
  • Vega‐Parades, Miquel
  • Jang, Hanhwi
  • Allahyari, Maryam
  • Kim, Se‐Ho
  • Ryou, KenHee
  • Chae, Donghyeon
  • Park, Hail
  • Jung, Yeon Sik
  • Oh, Min‐Wook
  • Jung, Chanwon
  • Scheu, Christina
  • Choi, Pyuck‐Pa

Ähnliche Objekte (12)