Impact of Hierarchical Dopant‐Induced Microstructure on Thermoelectric Properties of p‐Type Si‐Ge Alloys Revealed by Comprehensive Multi‐Scale Characterization
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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Impact of Hierarchical Dopant‐Induced Microstructure on Thermoelectric Properties of p‐Type Si‐Ge Alloys Revealed by Comprehensive Multi‐Scale Characterization ; day:25 ; month:04 ; year:2024 ; extent:15
Advanced functional materials ; (25.04.2024) (gesamt 15)
- Urheber
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Jang, Kyuseon
Ko, Won‐Seok
Son, Ji‐Hee
Jang, Jeong‐In
Kim, Bongseo
Vega‐Parades, Miquel
Jang, Hanhwi
Allahyari, Maryam
Kim, Se‐Ho
Ryou, KenHee
Chae, Donghyeon
Park, Hail
Jung, Yeon Sik
Oh, Min‐Wook
Jung, Chanwon
Scheu, Christina
Choi, Pyuck‐Pa
- DOI
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10.1002/adfm.202403785
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2404261403336.756607288346
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 11:04 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Jang, Kyuseon
- Ko, Won‐Seok
- Son, Ji‐Hee
- Jang, Jeong‐In
- Kim, Bongseo
- Vega‐Parades, Miquel
- Jang, Hanhwi
- Allahyari, Maryam
- Kim, Se‐Ho
- Ryou, KenHee
- Chae, Donghyeon
- Park, Hail
- Jung, Yeon Sik
- Oh, Min‐Wook
- Jung, Chanwon
- Scheu, Christina
- Choi, Pyuck‐Pa