Aufsatzsammlung | Konferenzschrift

High resolution three-dimensional reciprocal space mapping of semiconductor nanostructures

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
28 cm
Extent
S. 1682 - 1935
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Bibliographic citation
Physica status solidi ; 206, No. 8, Special issueA

Keyword
Röntgenstrukturanalyse
Kristallstrukturanalyse

Event
Veröffentlichung
(where)
Weinheim
(who)
Wiley-VCH
(when)
2009
Contributor
Stangl, Julian
Mariager, Simon O.

Table of contents
Rights
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Last update
11.03.2025, 11:39 AM CET

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Object type

  • Aufsatzsammlung
  • Konferenzschrift

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Time of origin

  • 2009

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