Hochschulschrift

Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
III, 143 S.
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Kiel, Univ., Diss., 2002

Keyword
Galliumantimonid
p-Halbleiter
Zink
Diffusion
Gitterbaufehler
Durchstrahlungselektronenmikroskopie
Galliumantimonid
p-Halbleiter
Zink
Diffusion
Gitterbaufehler
Durchstrahlungselektronenspektroskopie

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11.06.2025, 2:26 PM CEST

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