Hochschulschrift

Infrared ellipsometry on III-V semiconductor layer structures

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
107 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Leipzig, Univ., Habil.-Schr., 2003

Keyword
Drei-Fünf-Halbleiter
Mischkristall
Mehrschichtsystem
Dielektrische Funktion
Ellipsometrie

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Last update
11.06.2025, 1:38 PM CEST

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